采用X射线荧光光谱法进行Be、B、C、N、O和F元素测量时，由于这些元素的特征X射线能量极低，仅为108eV~667eV，属于极软X射线，容易被材料吸收；为了确保这些特征X射线具有较高的透过率，以提升探测器的量子效率，需要在探测器表面覆盖一层超薄导电窗膜。
苏州谱摩科技有限公司提供膜厚度小于0.6um的超薄有机窗膜，能高效地透过超软X射线。超薄有机窗膜上镀有20nm厚的铝膜，以实现导电功能，用于构建流气正比探测器电场。
作为一种创新的解决方案，公司还提供厚度为140nm的石墨烯膜。这种石墨烯膜本身具有导电性，不需要额外镀铝膜，可直接替代传统的有机膜附铝膜方案。
传统的辐射探测器，如硅漂移探测器（Silicon Drift Detectors, SDD）、正比计数管（Proportional Counters, PC）以及闪烁探测器（Scintillation Counters, SC）等，铍常被选用作为保护窗。但铍的产量稀少，加工复杂，同时具有一定的毒性，价格波动也较大。
谱摩科技生产的石墨烯窗（厚度范围从140nm ~ 10000nm）具有优良的机械性能和稳定性，以及较高的软X射线透过率，供货稳定，可以作为传统铍窗的替代品。
